叶片表面测量系统专为航空航天领域的高标准检测需求而设计，通过对叶片复杂曲面进行高精度三维数据采集与智能分析，实现从缺陷识别到尺寸测量的全流程自动化检测。

系统能够无接触获取叶片表面完整轮廓数据，精准识别裂纹、划痕、凹坑、涂层脱落等多种缺陷类型，并对叶身厚度、气膜孔直径等关键尺寸进行微米级精确测量。结合自动化上下料与定位机构，系统可高效完成批量叶片的连续检测与分拣，显著提升检测效率与一致性。系统搭载高稳定性硬件与智能分析算法，在确保测量数据可靠的同时，自动完成缺陷分类与参数量化，生成可视化报告。所有检测结果与叶片唯一ID绑定并自动归档，形成可追溯的质量数据链，为工艺改进与质量管控提供坚实依据。